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SB2204型智能化介質(zhì)損耗測(cè)試儀是一種新穎的測(cè)量介質(zhì)耗損（tgδ）和電容值（Cx）的數(shù)顯式儀器。用于在共頻高壓下，測(cè)量各種絕緣材料、絕緣套管、電力電纜、電容器、互感器、變壓器等高壓設(shè)備的介質(zhì)損耗（tgδ）和電容值（Cx）。儀器不僅可以測(cè)量?jī)蓚�(gè)電極與地絕緣的試品，也可以測(cè)量一極接地的試品。與西林電容電橋相比，具有操作簡(jiǎn)單、使用方便、讀數(shù)直觀、無(wú)需換算、抗干擾能力強(qiáng)等優(yōu)點(diǎn)。
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測(cè)量范圍 |
介質(zhì)損耗（tgδ）：±0~0.3 |
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最小測(cè)量電流 |
5μA |
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輸出電壓及最大輸出電流 |
10kV（100mA）、3kV（333mA）、1kV（500mA） |
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輸出電壓倍率 |
×1、×0.75、×0.5 |
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環(huán)境溫度 |
0~40℃ |
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相對(duì)濕度 |
30%~80% |
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電源電壓 |
220V±22V；50±1Hz |
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外形尺寸 |
560×320×400mm |
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重量 |
≤40kg |
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功耗 |
≤15kvA |
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測(cè)量?jī)?nèi)容 |
Tgδ范圍 |
測(cè)量電流（Icx）范圍及輸出電壓 |
工作方式 |
基本誤差 |
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介質(zhì)損耗因數(shù)（tgδ） |
Tgδ≤0.1 |
20μA≤Icx≤500m，
輸出電壓＞1kV |
正接線法 |
±（1%讀數(shù)+0.008） |
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反接線法 |
±（1%讀數(shù)+0.0015） |
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10μA≤Icx＜20μA，
輸出電壓＞1kV |
正接線法 |
±（2%讀數(shù)+0.0015） |
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反接線法 |
±（2%讀數(shù)+0.0025） |
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5μA≤Icx＜10μA，
輸出電壓≤1kV |
正接線法
反接線法 |
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0.1＜Tgδ≤0.1 |
20μA≤Icx≤500mA |
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電容 |
0≤Tgδ≤0.1 |
5μA≤Icx≤500mA |
±（2%讀數(shù)+1.5PF） | |